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                            A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀

                            更新時間:2023-10-10

                            型號:

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                            A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。低檢測下限可達0.08µm ,在全球同類產品中都處于先地位。 大量程激光粒度儀A22的推出,可以替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀,讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機器的全部功效,使用更加便捷。
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